中检葆泰谷物不完善粒检测仪
- 价格： ￥200000/台
- 发布日期： 2024-06-26
- 更新日期： 2024-12-09
产品详请
| 分辨率 |
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| 重量 |
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| 品牌 |
中检葆泰
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| 货号 |
CUKA-IX
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| 电源电压 |
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| 型号 |
CUKA-IX
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| 测量范围 |
千分之一
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| 规格 |
1台
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| 加工定制 |
否
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| 外形尺寸 |
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| 测量精度 |
千分之一
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粮食收购和贸易过程中，不完善粒是非常重要的定等作价指标。目前，粮食不完善粒检验，主要依靠人工，劳动强度极大，检测数据不够全面准确，因此需要一种通用、高效、准确的检测设备来节约劳动力、提高准确率和一致性。中检葆泰不完善粒检测仪借助图像扫描和智能算法，对每颗粮粒进行识别、判定，计算出不完善粒率，实时出具质检报告。
产品特点
性能参数
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适用谷物类型： 小麦、玉米、稻谷、大豆、花生和瓜子等；
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检测指标：虫蚀粒、病斑粒（黑胚粒、赤霉粒）、破损粒、生芽粒、生霉粒、热损伤粒；
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检测方式：高通量连续扫描成像；
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显示方式：同步实时显示检测结果；
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检测速度：4分钟内完成样品检测；
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成像系统：采用传送带输送高清线性扫描成像系统，分辨率0.024mm；
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自动化程度：具有进料自启动功能、样品检测完自动停止；
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准确度高，误差小；
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节省工作空间，适应不同环境；
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触摸屏，操作简单，数据保存方便快捷；
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操作记录可追溯。
